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会议论文 Proc.SPIE 2005 5638 Optical Design and Testing II 638 641 Haihong Hou, Kui Yi, Jianda Shao , Zhengxiu Fan,
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681E (10 pp.) Schlichting, S.; Heinrich, K.; Ehlers, H.; Ristau, D.
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681F (12 pp.) Ehlers, H.; Schlichting, S.; Schmitz, C.; Ristau, D.
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681G (7 pp.) Stojcevski, D.; Lequime, M.; Chauveau, G.; Torricini, D.; Grezes-Besset, C.
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681H (8 pp.) Thoumlny, S.S.; Buchholz, J.; Waldner, S.
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681I (11 pp.) Waddell, E.; Gibson, D.; Li Lin; Xiuhua Fu
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681J (6 pp.) Zoeller, A.; Hagedorn, H.; Weinrich, W.; Wirth, E.
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681K (6 pp.) Xi Chen; Yiting Chen; Min Yan; Jing Wang; Jiaming Hao; Min Qiu
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681L (7 pp.) Morozov, G.V.; Placido, F.
会议论文 Proc.SPIE 2011 8168 Advances in Optical Thin Films IV 81681P (13 pp.) Trofimov, V.A.; Lysak, T.M.
 
An instrument for surface roughness measurement of optical thin films
作者: Haihong Hou, Kui Yi, Jianda Shao , Zhengxiu Fan,
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Optical Design and Testing II
出版年:2005      卷: 5638      页: 638--641
文献类型:    会议论文
Online re-optimization as a powerful part of enhanced strategies in optical broadband monitoring
作者: Schlichting, S.; Heinrich, K.; Ehlers, H.; Ristau, D.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681E (10 pp.)
文献类型:    会议论文
From independent thickness monitoring to adaptive manufacturing: advanced deposition control of complex optical coatings
作者: Ehlers, H.; Schlichting, S.; Schmitz, C.; Ristau, D.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681F (12 pp.)
文献类型:    会议论文
Broadband optical monitoring for a 2-meter optics magnetron sputtering deposition machine
作者: Stojcevski, D.; Lequime, M.; Chauveau, G.; Torricini, D.; Grezes-Besset, C.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681G (7 pp.)
文献类型:    会议论文
Optimization of ion-assisted ITO films by design of experiment
作者: Thoumlny, S.S.; Buchholz, J.; Waldner, S.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681H (8 pp.)
文献类型:    会议论文
Modelling and optimization of film thickness variation for plasma enhanced chemical vapour deposition processes
作者: Waddell, E.; Gibson, D.; Li Lin; Xiuhua Fu
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681I (11 pp.)
文献类型:    会议论文
Testglass changer for direct optical monitoring
作者: Zoeller, A.; Hagedorn, H.; Weinrich, W.; Wirth, E.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681J (6 pp.)
文献类型:    会议论文
Photothermal phenomena in plasmonics and metamaterials
作者: Xi Chen; Yiting Chen; Min Yan; Jing Wang; Jiaming Hao; Min Qiu
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681K (6 pp.)
文献类型:    会议论文
Enhancement of omnidirectional bandgaps by one-dimensional ternary photonic crystals
作者: Morozov, G.V.; Placido, F.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681L (7 pp.)
文献类型:    会议论文
Two waves interaction in layered photonic structure at big phase mismatching
作者: Trofimov, V.A.; Lysak, T.M.
来源出版物: Proc.SPIE    书名或会议录名称:Advances in Optical Thin Films IV
出版年:2011      卷: 8168      文章编号:81681P (13 pp.)
文献类型:    会议论文
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出版年
2011(57)
2005(1)
1990(24)
 
文献类型
会议论文(82)
 
来源期刊
Proc.SPIE(82)
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