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An instrument for surface roughness measurement of optical thin films Proc.SPIE 2005 5638 638 641 会议论文 Optical Design and Testing II
An instrument for surface roughness measurement of optical thin films
作者: Haihong Hou, Kui Yi, Jianda Shao , Zhengxiu Fan,
来源出版物: Proc.SPIEOptical Design and Testing II
出版年: 2005      卷: 5638      页: 638--641
文献类型:会议论文
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出版年
2005(1)
 
所属专题
薄膜(1)
 
文献类型
会议论文(1)
 
所属部门
其他(1)
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